功能特點(diǎn)
多標(biāo)準(zhǔn)支持:支持 802.11a/b/g/j/n/p 等 Wi-Fi 標(biāo)準(zhǔn)以及藍(lán)牙經(jīng)典(1.x、2.x、3.0)和低能量(4.0、4.1)版本,還可選擇支持 Zigbee,能滿足多種無(wú)線產(chǎn)品的測(cè)試需求。
集成化設(shè)計(jì):集成了矢量信號(hào)分析儀(VSA)和矢量信號(hào)發(fā)生器(VSG),取代了傳統(tǒng)產(chǎn)線上的功率計(jì)、頻譜分析儀和離散信號(hào)發(fā)生器等多種儀器,將多種測(cè)試功能集成于一體,減少了儀器的使用數(shù)量,避免了復(fù)雜的設(shè)置。
測(cè)試效率高:可利用雙頭模式進(jìn)行測(cè)試,兩個(gè)射頻端口能同時(shí)對(duì)兩個(gè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試,有效消除設(shè)備啟動(dòng)時(shí)間,使設(shè)備利用率,配合自動(dòng)化測(cè)試程序,能快速提供參數(shù)測(cè)試結(jié)果,提高產(chǎn)線測(cè)試效率。
易于使用和部署:?jiǎn)魏惺綔y(cè)試架構(gòu),設(shè)置和操作簡(jiǎn)單,線纜需求少?;?C/C++ 的內(nèi)置測(cè)量功能可快速實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試開(kāi)發(fā),還提供 LabVIEW VI 庫(kù)和示例代碼,便于與 LabVIEW 集成。搭配 IQfact + 軟件解決方案,可在短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)大批量測(cè)試。
基帶測(cè)試功能:具備 I/Q 基帶輸入和輸出端口,可測(cè)試和驗(yàn)證基帶信號(hào),有助于深入分析和調(diào)試無(wú)線產(chǎn)品的基帶部分。
- 通用測(cè)試儀器
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測(cè)量頭 調(diào)節(jié)器 測(cè)試電纜 測(cè)試儀 光纖認(rèn)證儀 測(cè)試平臺(tái) 測(cè)試頭 映射器 采樣示波器模塊 穩(wěn)定光源 背反射器 瞬斷器 檢測(cè)器 激光鎖 損耗計(jì) 反射計(jì) 可調(diào)諧濾波器 電氣遠(yuǎn)程采樣頭模塊 偏振態(tài)光學(xué)測(cè)試儀 階段參考模塊 光采樣模塊 寬帶光源 精密反射儀 參考發(fā)射模塊 混合信號(hào) 函數(shù)發(fā)生器 全自動(dòng)RIE反應(yīng)離子刻蝕機(jī) 掃描電鏡納米壓痕儀 濕法刻蝕顯影機(jī) 三維X射線顯微鏡 原子力顯微鏡 分光光度計(jì) 真空離子規(guī)模塊 光學(xué)氣體熱像儀 多功能酶標(biāo)儀 萬(wàn)用表 便攜式分析儀 矢量測(cè)試儀 波形發(fā)生器 微波網(wǎng)絡(luò)分析儀 主頻標(biāo)準(zhǔn) 偏置網(wǎng)絡(luò) 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 可調(diào)諧激光源 網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀 噪聲系數(shù)分析儀 光時(shí)域反射計(jì) 阻抗分析儀 偏振光源 式紫外線標(biāo)準(zhǔn)8頭點(diǎn)光源固化設(shè)備 電機(jī) 脈沖中等電流源表模塊 光波測(cè)量系統(tǒng) 光通訊測(cè)試儀器 數(shù)字電視測(cè)試儀器 信號(hào)分析儀 信號(hào)發(fā)生器
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- 其他品牌
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- Anritsu/安立
- Keithley/美國(guó)吉時(shí)利
- YOKOGAWA/日本橫河
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- UNI-T/優(yōu)利德
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- BIRD/美國(guó)鳥(niǎo)牌
- Chroma/致茂
- KEYENCE/基恩士
- AMETEK/阿美特克
- ESPEC/愛(ài)斯佩克
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- EEC/中國(guó)臺(tái)灣華儀
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- HAMEG/德國(guó)惠美
- Nikon/日本尼康
- Hitachi/日立
- TDK-LAMBDA/日本
- OceanOptics/海洋光學(xué)
- 常州安柏
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- 盛普 SP
- DEIF/丹麥
- Quantum Opus