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常用雙晶探頭與種類(lèi)
常用雙晶探頭與種類(lèi)
雙晶探頭就是一個(gè)探頭內(nèi)，有一收一發(fā)兩個(gè)晶片，中間有隔聲層，我們又稱(chēng)之為分割探頭，區(qū)別于單晶探頭而言，雙晶探頭的發(fā)射靈敏度和接收靈敏度都更高。雙晶探頭的兩個(gè)晶片之間有一片吸聲性強(qiáng)、絕緣性好的隔聲層，它不僅用于克服發(fā)射聲束與反射聲束的相互干擾和阻塞，而且能使脈沖變窄、分辨率提高、消除發(fā)射晶片和延遲塊之間的反射雜波進(jìn)入接收晶片，有效減少雜波。由于雙晶探頭的發(fā)射部分和接收部分都帶有延遲塊，能使探傷盲區(qū)大幅減小，故雙晶探頭對(duì)表面缺陷的探傷十分有利。下面我們介紹一下縱波雙晶直探頭，縱波雙晶斜探頭，橫波雙晶斜探頭三種探頭的使用，增加大家對(duì)雙晶探頭的了解。
1、縱波雙晶直探頭
縱波雙晶探頭的兩個(gè)晶片都有一定的傾斜角度。發(fā)射聲束與接收聲束必然會(huì)產(chǎn)生相交，形成棱形的區(qū)域，此區(qū)域即為探傷區(qū)域。 菱形區(qū)愈長(zhǎng)，焦距愈大，探測(cè)深度愈深，適合厚工件的探傷檢驗(yàn)，菱形區(qū)愈短，焦距愈小，探測(cè)深度愈淺，適合薄工件的探傷。處于棱形區(qū)的缺陷，其反射信號(hào)強(qiáng)，同時(shí)對(duì)于同樣大小的缺陷，位于棱形區(qū)中心時(shí)，反射信號(hào)因此在實(shí)際探傷過(guò)程中，要根據(jù)被檢工件的厚度選取適當(dāng)?shù)慕咕?。焦距越小，則對(duì)薄工件的探傷越有利。一般來(lái)說(shuō)，選擇雙晶探頭的焦距小于被檢工件厚度5~10mm左右。雙晶探頭的探傷靈敏度先隨缺陷的深度增加而增高，到達(dá)大值后又隨深度增加而下降，這種探傷靈敏度的變化是雙晶探頭的特點(diǎn)，這是由于菱形中心區(qū)域能量大。
2、縱波雙晶斜探頭
顧名思義這是斜探頭，我們檢測(cè)用的是縱波，而不是傳統(tǒng)意義上的橫波。奧氏體不銹鋼焊接接頭常使用縱波雙晶斜探頭進(jìn)行超聲波探傷。不銹鋼的母材其晶粒度比碳素鋼要粗。伴隨著超聲波散射衰減增大，粗大晶粒的奧氏體組織中超聲波傳播時(shí)，在晶粒上被散射的超聲波的一部分會(huì)返回探頭，造成雜波。對(duì)奧氏體不銹鋼焊縫的探傷宜采用縱波雙晶斜探頭。
縱波雙晶斜探頭和聚束斜探頭，對(duì)于焊縫本身的奧氏體組織則聲穿透性各有不同，總之縱波斜射聚焦對(duì)奧氏體焊縫本身探傷效果較好，尤其對(duì)大厚度奧氏體焊縫,且焊縫熔合線回波影響不大。需要說(shuō)明的是,60mm以上的大厚度奧氏體不銹鋼焊縫探傷時(shí)，必須配合大功率的超聲波探傷儀。
3、橫波雙晶斜探頭
橫波雙晶雙斜探頭也具有一發(fā)一收兩個(gè)壓電晶片，且也能在構(gòu)件中產(chǎn)生一個(gè)菱形的聲聚焦區(qū)，能量更集中，它與單晶橫波斜探頭相比始波寬度更窄，雜波更少，信噪比更高。
