WDX 4000波长色散X荧光光谱仪性能特点:

1、创新的测角仪设计

?；さ拇葱滦透执低?，可以提供稳定、无回程间隙的旋转运动，以保证高精度的角度定位要求；

θ/2θ两轴独立运动，并配合伺服电机和圆光栅构成闭环系统；

永磁式交流伺服电机提供业界的高速平滑运动；

圆光栅测角重复性可达±0.0002度，精度达±0.0006度，足以保证优异的角度测量性能；

2、数字多道分析仪

12位，80M/s的模数转换采样率，是业界高分辨率的信号采样系统，保证了信号采集的完整性

基于高速FPGA框架以及可靠的数字信号处理算法，4096道分析系统足以从噪声中筛选正确的X射线信号

大动态范围测量，有效减少了探测器增益调节次数

3、X射线光管和高压

标准的4kW大功率电源系统，支持高灵敏度的痕量检测以及更快的检验速度

50um/75um的铍窗厚度保证高的X射线穿透率，尤其适合低能X射线穿过

高压电源电压和电流高可达60kV和160mA，用户可根据实际需要灵活设置电压和电流参数

双通道水冷系统，电导率保持在1uS以下，以大限度延长光管工作寿命其他

多可支持10块晶体，可根据客户需求提供专门优化的人工多层膜晶体，以提升轻元素的检测能力

薄可达0.3um的正比流气计数器窗膜，极大提升了轻元素的光通量

4、其他：

光谱室温度控制稳定性在±0.05C以内

晶体、准直器和滤光片都采用自动切换控制

5、软件

完整而丰富的软件功能

32位软件系统，优异的可操作性和人机交互界面

成熟的经验系数法配合标准样品提供准确可靠的检测数据

基本参数法可提供多样化的分析手段，可进行无标样的半定量和定量分析

集成的SQLite数据库用于保存实验数据，方便数据查询和管理

WDX 4000波长色散X荧光光谱仪技术指标：

◆进样系统

样品形式：固体

样品尺寸：大51.5mm×40mm

样品重量：重500g

进样系统：双进样系统，标备除尘过滤器和预抽真空系统；一个样品测量的同时给另一个样品预抽真空，互不干扰

自动进样机：自动机械手进样系统，多可装168个样品

自旋装置：3种自旋速度(低、中、高)

◆X射线光管

铍窗：50um/75um超薄铍窗，用以保证X射线的高通过率

阳极靶材料：标配铑靶，可选铜靶、钼靶、钨靶，铬靶，铂靶等

工作模式：样品进样时保持工作状态不变

水冷系统：双路水循环系统，电导率保持在1uS以下

◆高压电源

输出方式：1kV和1mA的标准调节单位，通过12位DA进行精细调节

长时间稳定性：0.01%/8hours

温度稳定性：50ppm/C(20 ppm/C可选).

◆数据

功率：4kW

KV/mA范围：电压20-60KV，电流10-140mA；大电压75kV，电流160mA可选

◆测角仪

工作模式：创新型钢带传动系统，无摩擦，无回程间隙，带有圆光栅反馈，θ/2θ两轴独立运动

大转角速度：6000  2θ/min

测角精度：0.0006° θ / 2θ

测角重复性：0.0002° θ / 2θ

步进角度：小0.0001°，大1°

角度扫描范围：流气比例计数器:12° to 150°@2θ

闪烁计数器：0° to 120°@2θ

◆光路

准直器面罩：单面罩，(其他尺寸27，32 or 50mm可选)

主准直器：多可装3个：100，150，300，550，700 or 4000um，可选

主滤光片：多4片：Pb，Al，Cu等元素可选

晶体：多10个：LiF420，LiF220，LiF200，Ge111，PE002，InSb，TIAP，以及用于轻元素测量的各种人工多层膜晶体.

探测器：流气比例计数器(FPC)，可配0.3um厚的窗膜

闪烁计数器(SC)

光室真空度：<15Pa

◆信号处理

数字多道分析仪：12位，80M/s采样速度，4096道分析能力，采用FPGA框架以及可靠的DSP算法用于信号和噪声分离

大计数率：流气比例计数器:3Mcps

闪烁计数器：1.5Mcps

脉冲漂移和增益校正：自动

时间校正：自动

可以根据需要设定任意位置样品优先测量(软件设置或感应位设置)

最大电流≥160mA，5-160mA间1mA连续可调

稳定性：外电源波动±1%时，输出波动为≤±0.00005%

最高设计功率≥4.2kW，最高设计电压≥75kV，最高设计电流≥200mA

角度准确度：≤0.001°