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OCS X-射線粒子掃描儀 (XP7) 能檢測出高度透明和不透明顆粒中的金屬缺陷，從而提高聚合物的產(chǎn)品質(zhì)量。XP7測量系統(tǒng)中創(chuàng)新的X射線技術(shù)可實時分析粒子流的圖像。由于金屬和聚合物對X射線的吸收不同，嵌入的50微米以上的金屬顆粒可被檢測出來。缺陷顆粒被一個多軌道空氣噴嘴系統(tǒng)分揀出來。

可測試的原材料

■高透明粒子

■不透明粒子

X-射線粒子掃描儀 (XP7) 特點

■高分辨率的X射線圖像

■可檢測到的zui小缺陷尺寸：50 µm

■處理量可達600公斤/小時, 根據(jù)具體材料性能差異而不同

■符合設(shè)備全面保護的技術(shù)要求

■結(jié)果實時可視化顯示

■用于分揀缺陷顆粒的多軌道空氣噴嘴系統(tǒng)