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礦石中鎢鉬銅鉛鋅鎘鈷鎳砷鉍銀錫硒測定儀

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    深圳市天創(chuàng)美科技有限公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質(zhì)譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質(zhì)譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產(chǎn)品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規(guī)定的有害物質(zhì):鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質(zhì)采礦(各種礦石品位檢測設備)、塑料(無鹵測試等)、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、環(huán)境保護、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗、質(zhì)量檢驗、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設備應用于元素分析,化合物測試,電鍍鍍層厚度檢測等。






能量色散X熒光光譜儀,ROHS ROHS2.0 REACH指令檢測儀|化合物分析|元素分析儀|土壤檢測儀|ROHS檢測儀|合金檢測儀|元素分析儀|礦石檢測儀|含鉛量檢測儀

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 20萬-50萬
應用領域 環(huán)保,地礦,能源,鋼鐵/金屬,綜合

礦石中鎢鉬銅鉛鋅鎘鈷鎳砷鉍銀錫硒測定儀


ICP電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀在礦石多元素測定中的應用介紹

一、儀器概述

ICP電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP - OES)是一種優(yōu)良的分析檢測設備,它利用電感耦合等離子體作為激發(fā)光源,對樣品中的元素進行激發(fā)并測定其發(fā)射光譜,從而實現(xiàn)對多種元素含量的精準分析。在礦石分析領域,該儀器可用于測定礦石中鎢、鉬、銅、鉛、鋅、鎘、鈷、鎳、砷、鉍、銀、錫、鎵、鍺、硒、碲、錸等元素的含量。

二、工作原理

ICP - OES的核心原理基于原子發(fā)射光譜。儀器中的高頻發(fā)生器產(chǎn)生高頻電流,通過感應線圈產(chǎn)生交變磁場。當氬氣被通入炬管時,在交變磁場的作用下電離形成等離子體。這個等離子體就像一個高溫的“火爐”,溫度可達6000 - 8000K。

礦石樣品經(jīng)過溶解、霧化等預處理后,以氣溶膠的形式被引入等離子體。在如此高溫的環(huán)境下,樣品中的原子被激發(fā)到高能態(tài)。當這些激發(fā)態(tài)的原子回到低能態(tài)時,會釋放出具有特定波長的光,就像不同顏色的有不同的發(fā)射光譜一樣,每種元素都有其的發(fā)射光譜。

分光系統(tǒng)將這些混合的光按照波長進行分離,檢測器則測量每個波長處的光強度。通過與已知濃度的標準溶液的光譜進行對比,就可以計算出礦石樣品中各元素的含量。

三、儀器優(yōu)勢

(一)多元素同時分析能力

ICP - OES可以一次性同時測定多種元素。對于礦石這種成分復雜的樣品,無需像傳統(tǒng)方法那樣分別對每種元素進行單獨分析,大大提高了分析效率。例如,在一次分析過程中,就能同時得到鎢、鉬、銅等16種元素的含量數(shù)據(jù)。

(二)高靈敏度和低檢測限

該儀器具有的靈敏度,能夠檢測到礦石中痕量元素的含量,檢測限可以達到ppb(十億分之一)級別。對于一些在礦石中含量很低但具有重要經(jīng)濟價值或環(huán)境意義的元素,如鎵、鍺、錸等,也能實現(xiàn)準確測定。

(三)寬線性范圍

ICP - OES的線性范圍較寬,能夠同時準確測定高含量和低含量元素。在礦石中,不同元素的含量差異可能很大,比如銅礦石中銅的含量可能較高,而一些伴生元素的含量則很低。該儀器無需對樣品進行復雜的稀釋或富集處理,就可以在一次分析中準確測定這些含量差異較大的元素。

(四)良好的抗干擾能力

電感耦合等離子體的高溫和高電離度能夠有效地分解樣品中的復雜基體,減少基體對分析元素的干擾。這使得儀器對不同類型的礦石樣品都具有良好的適應性,保證了檢測結(jié)果的準確性和可靠性。

四、應用場景

(一)礦石勘探

在礦石勘探階段,通過對采集的礦石樣品進行多元素分析,可以快速了解礦石的化學組成和品位,為礦產(chǎn)資源的評估和開發(fā)提供重要依據(jù)。

(二)選礦過程監(jiān)控

在選礦過程中,實時監(jiān)測礦石和選礦產(chǎn)品中各元素的含量變化,有助于優(yōu)化選礦工藝參數(shù),提高選礦回收率和精礦品質(zhì)。

(三)冶煉質(zhì)量把控

在礦石冶煉過程中,準確測定原料和產(chǎn)品中的元素含量,可以確保冶煉過程的穩(wěn)定性和產(chǎn)品質(zhì)量的一致性,同時也有助于控制有害元素的排放,減少對環(huán)境的影響。


下面是ICP儀器詳細介紹


儀器性能特點:

  1、儀器自動化程度高

  儀器的自動化程度,除了電源開關外,所有操作均由軟件完成。智能化的軟件,可實時可對各項操作進行實時反饋及信息提示。

  2、安全可靠的固態(tài)射頻電源

  儀器采用的射頻電源,具有體積小、輸出效率高、輸出功率穩(wěn)定,帶有水路、氣路及過載等各類安全保護功能,大大提升儀器的安全性,減小了儀器的故障率。

  3、全自動點火及匹配技術(shù)

  軟件可全自動一鍵點火,所有的參數(shù)設置變化,均自動完成。配合優(yōu)良的自動匹配技術(shù),點火成功率高,操作簡便。

  4、智能化的火焰監(jiān)視功能

  儀器配置了靈敏度好的光纖傳感器,可在儀器工作狀態(tài)下,實時監(jiān)測火焰的工作情況,如遇異常熄火情況,可自動關閉儀器。

  5、超高分辨率的光路系統(tǒng)

  儀器配置了超高分辨率的4320刻線的進口光柵,配合光路調(diào)節(jié)技術(shù),把普通儀器的分辨率約0008nm降低至0、005nm以內(nèi),超高的分辨率保證了測試元素之間沒有相互干擾。

  6、高精度的恒溫系統(tǒng)

  儀器整體光路采用精密恒溫系統(tǒng)保護,溫度的控制可根據(jù)客戶實驗室實際環(huán)境溫度實時設定,無需長時間不間斷的開可調(diào),控溫精度≤±0、1℃,精密的恒溫系統(tǒng)保證了光路的穩(wěn)定性,測試數(shù)據(jù)更穩(wěn)定。

  7、高精度的氣流控制系統(tǒng)

  儀器工作中的等離子氣、輔助氣、載氣全部采用高精度的質(zhì)量流量控制器(MFC)來控制,具有流量連續(xù)可調(diào)、輸出氣流的精度高,保證了測試數(shù)據(jù)的準確性。

  8蠕動泵進樣裝置

  儀器配置了通道十二滾軸的高精度蠕動泵,可同時保證進樣的精度和防止積液,蠕動泵的轉(zhuǎn)速連續(xù)可調(diào),滿足客戶的多種測試要求。

  9、觀測位置自動調(diào)節(jié)

  儀器采用二維的移動平臺設計,可通過軟件實時調(diào)節(jié)炬管的位置,通過反饋的信號值找到優(yōu)化的觀測位置,以獲取較強的靈敏度,得出準確的測試效果。

  10、超低的使用成本

  儀器非工作狀態(tài)下儀器電源、冷卻水箱、氣體全部關閉,不產(chǎn)生任何費用,儀器工作即開即用,無需長時間的光路預熱。使用氬氣純度為99、99%即可,無需99、999%的高純氬,成本節(jié)約至少三分之一。

  11、高靈敏度的檢測器

  儀器配置了高靈敏度進口光電倍增管(PMT)作為檢測器,可針對不同的待測元素自動設置測試參數(shù),以達到理想的檢測狀態(tài),給出準確的測試結(jié)果。無需制冷,無需吹掃,使用壽命長。

  儀器技術(shù)參數(shù):

  1、輸入電源:電壓交流220V,電流20A

  2、采用CzernyTurner型光路,焦距為1000mm。

  3、離子刻蝕全息光柵,刻劃面積(80×110mm。

  4全自動一鍵點火,自動匹配,點火穩(wěn)定、便捷。

  5、采用同心圓霧化器搭配旋流霧室,1ppmMn強度>1000000cps。

  6、分辨率(Mn257、610nm):≤0、005nm4320刻線光柵);≤0008nm3600刻線光柵);≤0015nm2400刻線光柵)。

  7、波長范圍:190-460nm4320刻線光柵);190-500nm3600刻線光柵);190-800nm2400刻線光柵)

  8、自主研發(fā)全固態(tài)射頻電源,輸出功率800-1600W,連續(xù)可調(diào),電源效率大于65%,工作頻率27、12MHz,頻率穩(wěn)定性<0、05%,功率輸出穩(wěn)定性<0、05%。

詳細指標參數(shù)如下:

光柵刻線

光柵:2400刻線

光柵:3600刻線

光柵:4320刻線

波長

范圍

190nm-800nm

190nm-500nm

190nm-420nm

示值誤差

±0.03nm

±0.03nm

±0.03nm

重復性

≦0.005nm

≦0.005nm

≦0.005nm

最小光譜帶寬

Mn 257.610nm

半高寬≦0.030nm

Mn 257.610nm

半高寬≦0.015nm

Mn 257.610nm

半高寬≦0.007nm

檢出限/(ug/L)

Zn(213.856nm)≦ 3.0

Ni(231.604nm)≦ 10.0

Mn(257.610nm)≦ 2.0

Cr(267.716nm)≦ 7.0

Cu(324.754nm)≦ 7.0

Ba(455.403nm)≦ 1.0

Zn(213.856nm)≦ 3.0

Ni(231.604nm)≦ 10.0

Mn(257.610nm)≦ 2.0

Cr(267.716nm)≦ 7.0

Cu(324.754nm)≦ 7.0

Ba(455.403nm)≦ 1.0

Zn(213.856nm)≦ 3.0

Ni(231.604nm)≦ 10.0

Mn(257.610nm)≦ 2.0

Cr(267.716nm)≦ 7.0

Cu(324.754nm)≦ 7.0

Ba(455.403nm)≦ 1.0

重復性

3號溶液 RSD≤1.5%

3號溶液 RSD≤1.5(%)

3號溶液 RSD≤1.5(%))

穩(wěn)定性

3號溶液 RSD≤2%

3號溶液 RSD≤2%

3號溶液 RSD≤2%

 

說明:下表為檢定用溶液標準

A.1 檢定波長用標準溶液

元素

Se

Zn

Mn

Cu

Ba

Na

Li

K

波長/nm

196.026

213.856

257.610

324.754

455.403

588.995

670.784

766.491

濃度/(mg/L)

10.0

10.0

5.00

5.00

5.00

20.0

10.0

20.0

注:基體為0.5mol/L硝酸

1.光柵刻線為2400L/mm時波長檢定以上元素  

2.光柵刻線為3600L/mm時波長檢定元素不含Li、Na、K。

      

                            A.2 工作曲線系列標準溶液               單位:mg/L

元素

Zn

Ni

Mn

Cr

Cu

Ba

1號

0

0

0

0

0

0

2號

1.00

1.00

0.50

1.00

0.50

0.50

3號

2.00

2.00

1.00

2.00

1.00

1.00

4號

5.00

5.00

2.50

5.00

2.50

2.50

注:基體為0.5mol/L硝酸

典型元素檢出限(μg/L):

元素

La

Ce

Pr

Nd

Sm

Eu

Gd

Tb

波長(nm)

408.672

413.765

414.311

401.225

360.946

381.967

342.247

350.917

檢出限

<3.0

<5.0

<5.0

<5.0

< 10.0

< 1.0

<10.0

< 3.0

 

元素

Dy

Ho

Er

Tm

Yb

Lu

Y

Sc

波長(nm)

353.170

345.600

337.271

313.126

369.419

261.541

371.030

335.373

檢出限

<3.0

<3.0

<3.0

<3.0

<1.0

<3.0

<1.0

<1.0

 

元素

Ta

Nb

Mn

Mg

B

Zn

Co

Si

波長(nm

226.230

313.340

257.610

279.553

249.773

13.856

228.616

251.611

檢出限

<5.0

<5.0

<3.0

<1.0

<10.0

<3.0

<3.0

<10.0

 

元素

Ni

Cd

Fe

Ca

Mo

V

Be

Ti

波長(nm)

232.003

226.502

239.562

393.366

281.615

310.230

313.041

334.941

檢出限

<5.0

<3.0

<3.0

<1.0

<5.0

<5.0

<1.0

<3.0

 

元素

Cu

Cr

Al

Zr

Ag

Sr

Au

Pt

波長(nm)

324.754

267.716

396.152

343.823

328.068

407.771

242.795

265.945

檢出限

<3.0

<5.0

<5.0

<5.0

<3.0

<1.0

<5.0

<5.0

 

元素

Pd

Ir

Rh

Ru

Ba

波長(nm)

340.458

224.268

343.489

240.272

455.403

檢出限

<5.0

<10.0

<10.0

<5.0

<1.0

 

元素

As

Sb

Bi

Hg

Pb

Ga

Se

波長(nm

228.812

206.833

223.061

253.652

220.353

294.364

203.985

檢出限

≤15

≤15

≤10

≤15

≤15

≤10

≤10

 

元素

Sn

Te

Ta

Th

Tl

Re

Ge

波長(nm)

242.949

214.281

226.230

283.730

276.787

227.525

209.426

檢出限

≤20

≤10

≤5.0

≤10

≤30

≤5

≤15

 

元素

Os

W

Se

Li

Na

K

波長(nm)

225.585

207.911

203.985

670.784

588.995

766.490

檢出限

≤1

≤10

≤30

≤3

≤20

≤60

 


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