Agilent安捷伦4156B半导体参数测试仪是用于各种测量功能的多合一工具。半导体参数分析仪可以测量和分析多种电子设备、材料、有源或无源元件、半导体或任何其他类型的电子设备的电气特性。工程师使用这台测试设备来监测不同类型设备中的电流和电压响应。附加的功能：

高分辨率/准确度和宽范围。I：1 fA 至 1 A（20 fA 偏移精度），V：1μV 至 200 V

采用直流或脉冲模式的全自动 IV 扫描测量，可扩展至 6 个 SMU

同步应力/测量功能，两个高压脉冲发生器单元 (±40 V)

时域测量：60μs – 可变间隔，多 10,001 个点

易于使用：类似于曲线跟踪器的旋钮扫描，自动分析功能

自动化：内置 HP Instrument BASIC、触发 I/O 功能

设置测量和/或压力条件

控制测量和/或压力执行

执行算术计算

在 LCD 显示屏上显示测量和计算结果

执行图形分析

存储和调用测量设置，以及测量和图形显示数据

转储到打印机或绘图仪以进行硬拷贝输出

使用内置的 HP Instrument BASIC 执行测量和分析

自检、自动校准

Agilent安捷伦4156B半导体参数测试仪Agilent HP 4156B 是下一代精密半导体参数分析仪。您将获得好的数字扫描参数分析仪、可靠性测试仪、功能强大的故障分析工具和自动进货检测站，所有这些都集成在一台仪器中。

这个新系列经过明确设计，旨在为评估您的亚微米几何器件提供的精度和功能。使用一台灵活的仪器，您可以从材料评估和器件表征一直到终封装部件检查和现场故障分析，提高您的半导体质量。