賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 蘇州賽可檢測設(shè)備有限公司
- 品牌 SEC/賽可
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/6/9 9:23:58
- 訪問次數(shù) 1988
產(chǎn)品標(biāo)簽
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,制藥/生物制藥 |
賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series簡介：
該檢測設(shè)備搭載200納米的Nano-focus Tube，廣泛應(yīng)用于要求檢測Sub-micron單位不良的半導(dǎo)體封裝及Waffer level packaging（WLP)領(lǐng)域里。通過大理石平臺和各個高精度驅(qū)動軸，可以更加精準(zhǔn)的找到不良部位并且正確的分析不良問題。添加3D CT模塊可進(jìn)行斷層分析，通過搭載Waffer handle(EFEM)裝置可自動裝卸Waffer，自動檢測，實(shí)現(xiàn)Full Auto全自動檢測的設(shè)備。
賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series特點(diǎn)：
1.搭載自主研發(fā)生產(chǎn)的200nm級別開管式光管（Focal spot size Nano-focus open tube）
2.Wafer level工藝中，對TSV，Micro-bump，Cu pilar等產(chǎn)生的超細(xì)微不良進(jìn)行自動檢測的優(yōu)秀選擇
3.SEC*的3D CT用Auto Collimation 及 Filtering技術(shù)實(shí)現(xiàn)X-ray damage free（無損檢測）
4.安全檢測存儲半導(dǎo)體芯片
5.可同時兼容2D,3D自動檢測
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